Please use this identifier to cite or link to this item:
https://hdl.handle.net/11147/2564| Title: | Birleşimsel devreler için otomatik test örüntüsü oluşturma | Other Titles: | Fourier analysis-based automatic test pattern generation for combinational circuits | Authors: | Ayav, Tolga | Keywords: | Birleşimsel devre Fourier analizi Otomatik test örüntüsü oluşturma Automatic test pattern generation Combinational circuit Fourier analysis Walsh transformation |
Publisher: | Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc. | Source: | Ayav, T. (2015, May 16-19). Birleşimsel devreler için otomatik test örüntüsü oluşturma. Paper presented at the 23rd Signal Processing and Communications Applications Conference. doi:10.1109/SIU.2015.7129939 | Abstract: | Boole işlevlerinin Fourier analizi son on yılda bilgisayar bilimlerinde oldukça ilgi çeken bir konu olmasına ragmen henüz çok az uygulama alanı bulabilmiştir. Bu çalışma birleşimsel mantık devrelerinin testi için Fourier analizi tabanlı bir otomatik test örüntüsü oluşturma metodu sunmaktadır. Fourier analysis of boolean functions has attracted great attention from computer scientists in the last decade but it still has few application areas. This work presents a Fourier analysis-based automatic test pattern generation method for combinational circuits. |
Description: | 23rd Signal Processing and Communications Applications Conference, SIU 2015; Inonu UniversitesiMalatya; Turkey; 16 May 2015 through 19 May 2015 | URI: | http://doi.org/10.1109/SIU.2015.7129939 http://hdl.handle.net/11147/2564 |
ISBN: | 9781467373869 |
| Appears in Collections: | Computer Engineering / Bilgisayar Mühendisliği Scopus İndeksli Yayınlar Koleksiyonu / Scopus Indexed Publications Collection |
Show full item record
CORE Recommender
Page view(s)
320
checked on Dec 2, 2024
Download(s)
268
checked on Dec 2, 2024
Google ScholarTM
Check
Altmetric
Items in GCRIS Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.