Please use this identifier to cite or link to this item:
https://hdl.handle.net/11147/7068
Title: | Silika yüzeylerin ıslanma hareketlerinin moleküler dinamik ile modellenmesi | Other Titles: | Modelling wetting behavior of silica surfaces by molecular dynamics | Authors: | Barışık, Murat | Keywords: | Lotus effect Molecular dynamics Wetting angle Silicon oxides |
Publisher: | Gazi Üniversitesi | Source: | Barışık, M. (2018). Silika yüzeylerin ıslanma hareketlerinin moleküler dinamik ile modellenmesi. Journal of the Faculty of Engineering and Architecture of Gazi University, 33(1), 337-344. doi:10.17341/gazimmfd.406805 | Abstract: | Yeni üretim tekniklerine paralel olarak nano-boyutlu teknolojiler çok geniş bir uygulama alanında kullanılmaya başlanmakta ve yeni uygulamalar geliştirmek için keşfedilmesi ve anlaşılması gereken konular süratle artmaktadır. Bu doğrultuda, yeni uygulamalarda sıkça yer bulan silikon ve silikon-dioksitin mikro/nano boyutlardaki malzeme özelliklerinin anlaşılmasına büyük ihtiyaç oluşmaktadır. Özellikle bu yüzeylerin ıslanma hareketlerinin anlaşılabilmesi ve hatta kullanılacak uygulamaya göre ayarlanabilmesi sayısız uygulama için önem arz etmektedir. Bu nedenlerle, nano-teknolojide sıkça kullanılan silikon-dioksit malzemesinin ve su moleküllerinin nano-ölçeklerde moleküler olarak modellenmesi bu çalışmada gerçekleştirildi. Modelleme molekuler dinamik hesaplamaları ile yapıldı. Silikon-dioksit yüzey üzerinde nano su damlacıkları oluşturup, denge halinde oluşan ıslatma açısı ölçümleri yapıldı. Literatürde işlem yükünü azaltmak için sıklıkla uygulanan, katı yüzey termal titreşimlerinin ıslatmaya olan etkisinin ihmal edilmesi ve modellenmemesinin ıslatma açısına olan etkisi incelendi. Katı moleküllerin termal titreşimlerinin ıslatma modellenen ıslatma fiziğine baskın bir etkisi olduğu görüldü. Geçtiğimiz yıllarda doğa taklidi olarak bilinen çalışma çevreleri tarafından hayata geçirilmeye çalışılan Lotus yaprağı etkisi temelli yüzey ıslatma kontrolu moleküler seviyede uygulandı. Yüzey üzerinde oluşturulan nano boyutlardaki yüzey yapılarının ıslanma açısını değiştirebildiği gösterildi. Temiz (0 0 1) silika yüzeyinde nano ölçek çizgi gerilimi etkisi altında ölçülen ıslanma açısının deneysel silika ıslanma açısı aralığında olduğu bulundu. | URI: | http://doi.org/10.17341/gazimmfd.406805 http://hdl.handle.net/11147/7068 https://search.trdizin.gov.tr/yayin/detay/268621 |
ISSN: | 1300-1884 1304-4915 |
Appears in Collections: | Mechanical Engineering / Makina Mühendisliği OpenAIRE Collection / OpenAIRE Koleksiyonu Scopus İndeksli Yayınlar Koleksiyonu / Scopus Indexed Publications Collection TR Dizin İndeksli Yayınlar / TR Dizin Indexed Publications Collection WoS İndeksli Yayınlar Koleksiyonu / WoS Indexed Publications Collection |
Show full item record
CORE Recommender
Page view(s)
688
checked on Dec 2, 2024
Download(s)
218
checked on Dec 2, 2024
Google ScholarTM
Check
Altmetric
Items in GCRIS Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.