Please use this identifier to cite or link to this item:
https://hdl.handle.net/11147/10773| Title: | MC/DC testlerinin önceliklendirilmesine ilişkin bir yöntem | Authors: | Ayav, Tolga | Keywords: | MC/DC testleri Modified condition Decision coverage |
Publisher: | Türk Patent Enstitüsü | Abstract: | Buluş, MC/DC (Modified Condition/Decision Coverage) testi, DO-178 standardınca önerilen ve A seviyesinde kritik yazılımların geliştirme sürecinde kullanılan bir test yöntemi ile ilgilidir. | Description: | Patent, 6769 sayılı Sınai Mülkiyet Kanununun Geçici 1 nci maddesi uyarınca Mülga 551 sayılı Patent Haklarının Korunması Hakkında Kanun Hükmünde Kararname kapsamında 30/12/2016 tarihinden itibaren 20 yıl süre ile korunmak üzere 21/05/2021 tarihinde incelemeli olarak verilmiştir. | URI: | https://hdl.handle.net/11147/10773 |
| Appears in Collections: | Computer Engineering / Bilgisayar Mühendisliği Patent Koleksiyonu / Patent Collection |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Patent_künye.pdf | Patent Tescil Belgesi | 29.26 kB | Adobe PDF | View/Open |
| Patent_belge.pdf | Patent Dosyası | 5.62 MB | Adobe PDF | View/Open |
CORE Recommender
Page view(s)
58,406
checked on Nov 18, 2024
Download(s)
1,316
checked on Nov 18, 2024
Google ScholarTM
Check
Items in GCRIS Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.