Please use this identifier to cite or link to this item: https://hdl.handle.net/11147/13518
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorBalantekin, Müjdattr
dc.date.accessioned2023-06-14T13:14:41Z-
dc.date.available2023-06-14T13:14:41Z-
dc.date.issued2013-
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/11147/13518-
dc.description.abstractAtomik Kuvvet Mikroskobu (AKM) nano bilim ve teknoloji alanında yaygın olarak kullanılan vazgeçilmez bir gereç olmuştur. Ticari sistemler yapısal analiz için yeterli çözünürlük sağlamasına rağmen, dinamikAKM sistemlerinin görüntüleme hızı bazı uygulamalar için yeterli değildir. Bu projede, AKM uygulamaları için yüksek hızlı, aktüatörsüz, ve dinamik bir görüntüleme metodu geliştirdik. Bu metotta geleneksel AKM düzeneklerinde kullanılması gereken piezotüp aktüatörünü kullanmıyoruz. Bunun yerine, Q-kontrollü AKM probunun titreşim modunu aktüatör fonksiyonunu yerine getirmesi için kullanıyoruz. Sıradan bir AKM probuyla bile görüntüleme hızının geleneksel dinamik-AKM görüntüleme yöntemine kıyasla 100 kat mertebesinde arttırılacağını gösterdik. Frekans modülasyonlu AKM sistemlerinde, belirli koşullar altında, rezonans frekansı 600 kHz olan bir prob ile 100×100 piksellik görüntünün 24 çerçeve/sn hızında alınabileceğini teorik olarak gösterdik. Metodu, tarama zamanı, deneğe uygulanan geçici kuvvetlerin tepe değeri, ve ölçüm hatası bakımından değişik denek ve prob parametreleri için inceledik. Görüntüleme hızının yüksek rezonans frekanslı problar kullanılarak daha fazla arttırılabileceğini gösterdik. Metodun vurmalı-modda çalışan AKM üzerinde kanıtlama deneylerini gerçekleştirdik. Deney sonuçları görüntüleme hızının geleneksel görüntüleme yöntemine göre önemli ölçüde arttırılabilecegini göstermiştir. Bu metod elbette herhangi bir özel veya küçük proba ihtiyaç duymadan AKM ile görüntüleme deneylerine harcanan zamanı azaltacaktır. Ayrıca, bu metod dinamik-AKM sistemlerinin endüstriyel ölçekli nano metroloji ve manipülasyon için kullanımlarını yaygınlaştıracaktır. Metodun, küçük prob ve hızlı X-Y tarayıcısı bulunan dinamik-AKM sistemlerine uygulanmasıyla, nanomakinelerin ve bir kaç milisaniye içerisinde gerçekleşen biyomoleküler işlemlerin gerçek-zamanlı görüntülenmesi yakın bir gelecekte mümkün olabilecektir.tr
dc.language.isotren_US
dc.publisherTÜBİTAK - Türkiye Bilimsel ve Teknolojik Araştırma Kurumutr
dc.relationAtomik Kuvvet Mikroskobu Uygulamalari İçin Yüksek Hizli, Aktüatörsüz, Ve Dinamik Görüntüleme Metodunun Geliştirilmesitr
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen_US
dc.subjectAtomik kuvvet mikroskobutr
dc.subjectNano metrolojitr
dc.subjectQ-kontrollü prob titreşim modutr
dc.titleAtomik kuvvet mikroskobu uygulamaları için yüksek hızlı, aktüatörsüz ve dinamik görüntüleme metodunun geliştirilmesitr
dc.typeProjecten_US
dc.authorid0000-0003-0685-3584en_US
dc.departmentİzmir Institute of Technology. Electrical and Electronics Engineeringen_US
dc.relation.publicationcategoryDiğertr
dc.relation.grantno110T732en_US
item.fulltextWith Fulltext-
item.openairecristypehttp://purl.org/coar/resource_type/c_18cf-
item.grantfulltextopen-
item.cerifentitytypePublications-
item.openairetypeProject-
item.languageiso639-1tr-
crisitem.author.dept03.05. Department of Electrical and Electronics Engineering-
Appears in Collections:Electrical - Electronic Engineering / Elektrik - Elektronik Mühendisliği
TR Dizin İndeksli Yayınlar / TR Dizin Indexed Publications Collection
Files in This Item:
File Description SizeFormat 
document.pdfProject File2 MBAdobe PDFView/Open
Show simple item record



CORE Recommender

Page view(s)

48
checked on May 6, 2024

Download(s)

70
checked on May 6, 2024

Google ScholarTM

Check





Items in GCRIS Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.